JEOL: lanciato il nuovo microscopio elettronico a scansione e emissione di campo Schottky JSM-IT800

－Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con piattaforma a tecnologia intelligente (Intelligence Technology, IT)－ JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (Presidente e direttore operativo Izumi Oi) annuncia il lancio nel maggio 2020 del nuovo microscopio elettronico a scansione a emissione di campo Schottky, JSM-IT800. questo comunicato stampa include contenuti multimediali. Visualizzare l’intero comunicato qui:…

TOKYO, 25/05/2020 (informazione.it - comunicati stampa - scienza e tecnologia)

JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (Presidente e direttore operativo Izumi Oi) annuncia il lancio nel maggio 2020 del nuovo microscopio elettronico a scansione a emissione di campo Schottky, JSM-IT800.

questo comunicato stampa include contenuti multimediali. Visualizzare l’intero comunicato qui: https://www.businesswire.com/news/home/20200525005052/it/

Scenario dello sviluppo

I microscopi elettronici a scansione (scanning electron microscope, SEM) vengono usati in vari campi tra cui nanotecnologia, metalli, semiconduttori, ceramiche, medicina e biologia. Poiché le applicazioni SEM si stanno estendendo dalla ricerca e sviluppo al controllo di qualità e all’ispezione dei prodotti negli impianti di produzione, gli utilizzatori di SEM necessitano di processi di acquisizione di dati di alta qualità più rapidi e di una semplice conferma di informazioni composizionali con attività integrate.

Per soddisfare queste esigenze, il microscopio JSM-IT800 con piattaforma a tecnologia intelligente (Intelligence Technology, IT) incorpora la nostra pistola elettronica a emissione di campo Schottky Plus, integrata nell’ottica, per la mappatura essenziale rapida e l’imaging ad alta risoluzione, unitamente a un innovativo sistema di controllo ottico degli elettroni “Neo Engine” e a un “Centro SEM” con un’interfaccia grafica utente (graphic user interface, GUI) ottimale per la piena integrazione di uno spettrometro a raggi x a dispersione di energia (energy dispersive spectrometer, EDS) JEOL.

Il testo originale del presente annuncio, redatto nella lingua di partenza, è la versione ufficiale che fa fede. Le traduzioni sono offerte unicamente per comodità del lettore e devono rinviare al testo in lingua originale, che è l'unico giuridicamente valido.

Vedi la versione originale su businesswire.com: https://www.businesswire.com/news/home/20200525005052/it/

Copyright Business Wire 2020

JEOL Ltd.
Divisione vendite strumenti scientifici e di misurazione
Kazunori Kitazumi
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

Permalink: http://www.businesswire.com/news/home/20200525005052/it/