JEOL: lanzamiento de nuevo microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Schottky JSM-IT810

JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (Presidente y CEO: Izumi Oi) anuncia el lanzamiento del nuevo microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Schottky JSM-IT810 el 28 de julio de 2024.
Los microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo (FESEM) se utilizan ampliamente en los campos de la ciencia y la tecnología, como institutos de investigación, universidades e industrias. Existe una creciente demanda de un instrumento que se pueda utilizar de manera fácil, precisa, rápida y eficiente desde la observación hasta el análisis.
El JSM-IT810 agrega la función de observación y análisis automático "Neo Action" y la función de calibración automática al JSM-IT800, que viene con el sistema de control óptico electrónico de próxima generación "Neo Engine" y el "SEM Center" para alta operatividad como la integración de Zeromag y EDS, no solo para mejorar la eficiencia y la productividad, sino también para ayudar a resolver la escasez de mano de obra.

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Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810 (Photo: Business Wire)

Características principales

1. Función de observación y análisis automático "Neo Action"
Lo único que necesita hacer es seleccionar las condiciones de adquisición de imágenes SEM y el campo de visión, y la función realiza automáticamente la observación SEM y el análisis EDS (espectroscopia de rayos X por dispersión de energía).
Esta función contribuye a mejorar la eficiencia del trabajo rutinario, incluido el trabajo de análisis.

2. Función de calibración automática "SEM Automatic Adjustment Package" (Paquete de ajuste automático SEM)
Esta función permite la ejecución automática de los elementos seleccionados en el ajuste de alineación, el ajuste de aumento y la calibración de energía EDS.

3. "Live Function"
Esta función permite realizar las funciones Live 3D, Live Analysis y Live Map. Se pueden crear imágenes 3D de inmediato mientras se realiza una observación SEM para obtener información sobre irregularidades y profundidad. Además, ayuda a mostrar siempre el espectro de rayos X característicos y el mapeo elemental.

4. Integración de EDS
La observación mediante un microscopio electrónico de barrido (SEM) y el análisis mediante EDS están integrados. El análisis de puntos, áreas y mapas se puede realizar desde la pantalla de observación. La incorporación de Windowless EDS-Gather-X permite la detección de Li y el análisis con una alta sensibilidad y una alta resolución espacial.

Objetivo de ventas unitarias al año

220 unidades/año

Enlace relacionado

Información del producto: microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Schottky JSM-IT810
https://www.jeol.com/products/scientific/sem/JSM-IT810.php

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokio, 196-8558, Japón
Izumi Oi, Presidente y CEO
(Código bursátil: 6951, Mercado principal de la Bolsa de Tokio)
www.jeol.com

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